Hitachi日立 HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜

HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜

产品介绍：

HD-2700带有球差校正的场发射扫描透射电子显微镜     电镜球差校正技术的实用化，使得同时进行超高分辨率观察和超高灵敏度分析成为可能。日立高新技术公司与CEOS公司共同的努力，成功地开发出了新一代扫描透射电子显微镜(STEM)。     HD-2700通过球差校正，用大会聚角获得了亚纳米级电子束，在分辨率和分析性能获得重大的进步。     HD-2700共有三种型号，分别是配有球差校正的高分辨型和标准型，以及无球差校正型，可根据应用需求选择。 特点： 1. 高分辨观察 *利用金颗粒保证0.144nm分辨率DFSTEM像（标准型） 2.增加了探针电流(约为非校正的STEM探针电流的10倍)，可以进行高速、高灵敏度能谱分析 *可以在更短的时间内获得元素的面分布图 *检测微量元素成为可能 3.简化的操作 *提供了专用的GUI自动调节球差校正器 4.整体的解决方案 *样品杆与日立FIB兼容，提供了纳米尺度的整体解决方案：从制样到数据获得和最终分析 5.多种评价/分析功能可选 *同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像 *可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得) *实时衍射(DF-STEM像和衍射像可以同时观察) *低剂量功能可以减少由电子束造成的样品破坏/污染 *可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转) *精确的放大倍率校准功能 技术指标：  项目  描述  分辨率 (晶格分辨率)  1、配有球差校正的标准型     0.144nm，电子枪：冷场或热场  2、配有球差校正的高分辨型     0.136nm，电子枪：冷场  3、无球差校正型                 0.204nm，电子枪：热场  加速电压  200KV  放大倍率  100x -10,000,000  图像模式  图像模式 相衬度像(TE像)  原子序数衬度像(ZC像)  电子衍射花样(可选)  特征X射线像(可选 ：EDX)  EELS像(可选 ：ELV-2000)  电子光学  电子枪         场发射电子源，内置阳极加热器  透镜系统       两级聚光镜、物镜、投影镜  球差校正器     六极/传输 双重（标准型和高分辨型）  扫描线圈       两级电磁线圈  电位移         0.5μm  样品杆  类型           侧插式  移动范围       X,Y=±1mm，T=±30°(单倾样品杆)  操作系统  Windows XP